對(duì)于航空插頭，在各個(gè)電器組件中的應(yīng)用是比較廣泛的。在實(shí)際使用中，經(jīng)常會(huì)出現(xiàn)接頭過(guò)熱等情況。對(duì)于這種情況，我們歸納起來(lái)主要有以下幾種原因：

　　一、連接器表面保護(hù)涂層失效，導(dǎo)致連接器接點(diǎn)發(fā)生腐蝕。

　　二、化學(xué)與電化學(xué)腐蝕：純凈金屬在大氣環(huán)境中，因其熱力學(xué)不穩(wěn)定性，都具有從高能狀態(tài)向低能狀態(tài)過(guò)度的趨勢(shì)，因此金屬在大氣環(huán)境中發(fā)生腐蝕過(guò)程是一種自然規(guī)律。金屬的腐蝕一般存在兩種情況，即化學(xué)腐蝕和電化學(xué)腐蝕。由于化學(xué)腐蝕的速度極其緩慢，因此不會(huì)構(gòu)成接頭發(fā)熱的主要因素。而電化學(xué)腐蝕系統(tǒng)自成回路，有腐蝕電流產(chǎn)生，使陽(yáng)極不斷離解，使腐蝕有可能不間斷地進(jìn)行下去，于是連接器接頭面積會(huì)趨于減少，而不時(shí)過(guò)程中產(chǎn)生和積累的沉積膜以及陽(yáng)極金屬表面產(chǎn)生的鈍化膜，會(huì)是連接器接頭的接觸電阻顯著增大，使接頭的溫升顯著提高，并產(chǎn)生惡性循環(huán)，成為接頭發(fā)熱的主要構(gòu)成因素。

　　三、金屬磨損：由于外力作用或金屬本身的熱脹冷縮以及負(fù)荷在高峰與低谷間的波動(dòng)的沖擊，會(huì)使連接器接頭的接觸點(diǎn)越來(lái)越少。其結(jié)果是航空插頭接頭接觸面上被腐蝕的地方逐漸增多，因此接觸電阻逐漸增大，接頭處溫升逐漸增高。

　　對(duì)航空插頭失效品和正常品進(jìn)行高溫試驗(yàn),高溫冷卻后的樣品測(cè)試絕緣,分別和結(jié)果表明,故障產(chǎn)品含有一定量的水分在航空插頭,與此同時(shí),水的存在和高溫會(huì)降低航空插頭的絕緣電阻。

　　然后對(duì)航空插頭故障產(chǎn)品拆卸實(shí)驗(yàn),發(fā)現(xiàn)航空插頭剩余內(nèi)部絕緣組件有淺藍(lán)色的腐蝕,光一層金屬薄膜,失敗航空插頭之前和之后的拆遷封裝膠絕緣電阻測(cè)試,結(jié)果表明,失敗后拆卸航空插頭的絕緣合格,并封裝膠測(cè)試其絕緣電阻是正常的。

　　所有金屬部件的航空插頭EDS測(cè)試,結(jié)果表明,金屬條的金屬部件的表面鍍銀的銅鋅合金,和其他金屬部件沒有銅鋅銀原料,淺藍(lán)色的腐蝕,和遷移的銀膜是金屬與金屬接觸一條組件,所有組件的絕緣,紅外分析結(jié)果表明,該絕緣組件分別有聚酯,硅膠,PVC(封裝膠),分別對(duì)封裝膠和正常封裝脫膠商品用于離子色譜分析,結(jié)果表明,氯離子含量的失敗產(chǎn)品包裝膠是正常產(chǎn)品的1.8倍,潮濕環(huán)境中氯離子的存在會(huì)大大促進(jìn)金屬部件的腐蝕和離子導(dǎo)電路徑的形成。