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電池IV測(cè)試儀太陽光模擬器
產(chǎn)品概述
A++A+A+級(jí)電池IV測(cè)試儀太陽光模擬器整合完整的IV測(cè)量系統(tǒng),針對(duì)各種太陽能電池的性能,進(jìn)行全面的測(cè)量與評(píng)估;小于±5%的光譜不匹配性(A++級(jí)),有效光譜范圍300nm~1800nm,有效的降低光譜不匹配性對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響
電池IV測(cè)試儀太陽光模擬器主要特點(diǎn):
*光譜范圍300nm~1800nm or 400nm~1100nm;
*AM1.5G光譜 or AM0 光譜
*光譜不匹配度優(yōu)于±5%,達(dá)到A++級(jí)別;
*光強(qiáng)分布不均勻度優(yōu)于1%,達(dá)到A+級(jí)別;
*不穩(wěn)定性優(yōu)于1%,達(dá)到A+級(jí)別;
*配合SAN-EI公司高精度IV測(cè)量單元;
*IV測(cè)試重復(fù)性:優(yōu)于0.1%;
*自動(dòng)光強(qiáng)反饋控制;
*溫度檢測(cè)及修正系統(tǒng);
3,光譜的不匹配性、光強(qiáng)不均勻性、光強(qiáng)不穩(wěn)定性同時(shí)滿足JIS C 8912,IEC 60904-9 2007,ASTM E927-05三大國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)AAA。
3.1 光強(qiáng)不均勻度: 小于2%,符合國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)A+級(jí)。
3.2 光強(qiáng)時(shí)間不穩(wěn)定度:小于1%(測(cè)試時(shí)長(zhǎng)≥1小時(shí)),符合國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)A+級(jí)。
3.3 光譜不匹配性:小于±5%,符合國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)A++級(jí)(AM1.5G濾波片或AM0)。
4,電池IV測(cè)試儀太陽光模擬器初始光強(qiáng):1000W/m2;光強(qiáng)連續(xù)可調(diào),調(diào)節(jié)范圍:70%----130%。
5,氙燈壽命: 2000小時(shí)或1000小時(shí)
6,光室過熱保護(hù)功能。
7,氙燈使用壽命計(jì)時(shí)器:系統(tǒng)可自動(dòng)記錄氙燈使用時(shí)間。
8,快門曝光時(shí)間:0.1S---9990 Hours,可以自行設(shè)定曝光時(shí)間。
9,支持遠(yuǎn)程控制功能。
10,支持停機(jī)風(fēng)扇自動(dòng)冷卻功能。
11,安全自鎖功能。
12,出光方向可調(diào)、可定制
電池IV測(cè)試儀太陽光模擬器應(yīng)用領(lǐng)域非常廣泛,各類的光催化實(shí)驗(yàn),例如光解水制氫、光降解污染物;模擬日光可見光加速實(shí)驗(yàn);各類模擬日光紫外波段加速實(shí)驗(yàn)等研究。